Integration of test with design and manufacturing International test conference proceedings 1987 Washington DC, september 1,2,3 1987

Λεπτομέρειες βιβλιογραφικής εγγραφής
Συγγραφή απο Οργανισμό/Αρχή: International Test Conference Washington
Μορφή: Πρακτικό Συνεδρίου Βιβλίο
Γλώσσα:English
Έκδοση: Washington DC IEEE Computer Society Press c1987
Θέματα:
Περιγραφή
Περιγραφή τεκμηρίου:Περιέχει βιβλιογραφικές αναφορές
Φυσική περιγραφή:xxxi, 1151p. fig.
ISBN:0 8186 0798 x