Integration of test with design and manufacturing International test conference proceedings 1987 Washington DC, september 1,2,3 1987
Συγγραφή απο Οργανισμό/Αρχή: | |
---|---|
Μορφή: | Πρακτικό Συνεδρίου Βιβλίο |
Γλώσσα: | English |
Έκδοση: |
Washington DC
IEEE Computer Society Press
c1987
|
Θέματα: |
Περιγραφή τεκμηρίου: | Περιέχει βιβλιογραφικές αναφορές |
---|---|
Φυσική περιγραφή: | xxxi, 1151p. fig. |
ISBN: | 0 8186 0798 x |