The state of the Art:from device testing to reconfigurable systems. FTC/3 International symposium on Fault-Tolerant Computing Palo Alto, CA, June 20-23, 1973
| Μορφή: | Βιβλίο |
|---|---|
| Γλώσσα: | English |
| Έκδοση: |
New York
IEEE Computer Society Press
c1973
|
| Θέματα: |
| Περιγραφή τεκμηρίου: | Περιέχει βιβλιογραφικές αναφορές |
|---|---|
| Φυσική περιγραφή: | v, 182p. fig. |
