The changing philosophy of test International test conference proceedings 1990 Washington, DC, September 10-14, 1990

Λεπτομέρειες βιβλιογραφικής εγγραφής
Συλλογικό Έργο: International Test Conference Washington, IEEE Computer Society
Μορφή: Πρακτικό Συνεδρίου Βιβλίο
Γλώσσα:English
Έκδοση: Los Alamitos IEEE Computer Society Press c1990
Θέματα:

Μηχανικών Η/Υ και Πληροφορικής: Unknown

Λεπτομέρειες τεκμηρίων από Μηχανικών Η/Υ και Πληροφορικής: Unknown
Ταξιθετικός Αριθμός: 621.381 548
Αντίγραφο 1 Στη βιβλιοθήκη