The changing philosophy of test International test conference proceedings 1990 Washington, DC, September 10-14, 1990

Λεπτομέρειες βιβλιογραφικής εγγραφής
Συλλογικό Έργο: International Test Conference Washington, IEEE Computer Society
Μορφή: Πρακτικό Συνεδρίου Βιβλίο
Γλώσσα:English
Έκδοση: Los Alamitos IEEE Computer Society Press c1990
Θέματα:
Περιγραφή
Περιγραφή τεκμηρίου:Περιέχει βιβλιογραφικές αναφορές
Φυσική περιγραφή:xvi, 1083p. fig.
ISBN:0 8186 2064 1