The changing philosophy of test International test conference proceedings 1990 Washington, DC, September 10-14, 1990
Συλλογικό Έργο: | , |
---|---|
Μορφή: | Πρακτικό Συνεδρίου Βιβλίο |
Γλώσσα: | English |
Έκδοση: |
Los Alamitos
IEEE Computer Society Press
c1990
|
Θέματα: |
Περιγραφή τεκμηρίου: | Περιέχει βιβλιογραφικές αναφορές |
---|---|
Φυσική περιγραφή: | xvi, 1083p. fig. |
ISBN: | 0 8186 2064 1 |