The changing philosophy of test International test conference proceedings 1990 Washington, DC, September 10-14, 1990

Λεπτομέρειες βιβλιογραφικής εγγραφής
Συλλογικό Έργο:	International Test Conference Washington, IEEE Computer Society
Μορφή:	Πρακτικό Συνεδρίου Βιβλίο
Γλώσσα:	English
Έκδοση:	Los Alamitos IEEE Computer Society Press c1990
Θέματα:	IEEE PROCEEDINGS Δοκιμές ΠΡΑΚΤΙΚΑ ΣΥΝΕΔΡΙΩΝ


LEADER	01130nam a22002773u 4500
001	10102944
003	upatras
005	20210426115800.0
008	991022s eng
952			\|0 0 \|1 0 \|4 0 \|6 621_381000000000000_548 \|7 0 \|9 129853 \|a CEID \|b CEID \|d 2016-04-24 \|l 0 \|o 621.381 548 \|r 2016-04-24 00:00:00 \|t 1 \|w 2016-04-24
999			\|c 85100 \|d 85100
020			\|a 0 8186 2064 1
040			\|a Βιβλιοθήκη ΕΑΙΤΥ \|c Βιβλιοθήκη ΕΑΙΤΥ
041	0		\|a eng
111	2		\|9 185028 \|a International Test Conference \|c Washington) \|d (1990 :
245	1	0	\|a The changing philosophy of test \|b International test conference proceedings 1990 Washington, DC, September 10-14, 1990
260			\|a Los Alamitos \|b IEEE Computer Society Press \|c c1990
300			\|a xvi, 1083p. \|b fig.
500			\|a Περιέχει βιβλιογραφικές αναφορές
650		4	\|a IEEE \|9 24256
650		4	\|a PROCEEDINGS \|9 24278
650		4	\|a Δοκιμές \|9 117099
650		4	\|a ΠΡΑΚΤΙΚΑ ΣΥΝΕΔΡΙΩΝ \|9 113060
710	2		\|a IEEE Computer Society \|9 23536
852			\|a GR-PaULI \|b ΠΑΤΡΑ \|b ΤΜΗΥΠ \|h 621.381 548 \|t 1
942			\|2 ddc \|c BK15

Παρόμοια τεκμήρια