"Ελεγχος Ορθής Λειτουργίας Κρυφής Μνήμης" (Cache Memory Testing) Διπλωματική εργασία.

"Ελεγχος Ορθής Λειτουργίας Κρυφής Μνήμης" (Cache Memory Testing) Διπλωματική εργασία.

Λεπτομέρειες βιβλιογραφικής εγγραφής
Κύριος συγγραφέας:	Μακρής, Γιώργος (Συγγραφέας)
Άλλοι συγγραφείς:	Νικολός, Δ.
Μορφή:	Βιβλίο
Γλώσσα:	Greek
Έκδοση:	Πάτρα Τμημα Η/Υ. Πτυχιακές Εργασίες. Ιούνιος 1995
Θέματα:	CACHE MEMORY Δοκιμές VLSI ΠΤΥΧΙΑΚΗ ΕΡΓΑΣΙΑ 1995

Παρόμοια τεκμήρια

The cache memory book
ανά: Handy, Jim
Έκδοση: (1998)

Μελέτη συμπεριφοράς cache memories σε πολυνηματικά περιβάλλοντα Διπλωματική εργασία.
ανά: Βρούχα, Δήμητρα, κ.ά.
Έκδοση: (1995)

Έλεγχος ορθής λειτουργίας κρυφής μνήμης δεδομένων βασισμένος στο λογισμικό
ανά: Καρτέρης, Γεώργιος
Έκδοση: (2022)

Διαχείριση κρυφής μνήμης επεξεργαστών με πρόβλεψη
ανά: Σπηλιωτακάρας, Αθανάσιος
Έκδοση: (2010)

Test and design validity Proceedings. International Test Conference, october 20-25, 1996 Washington D.C. USA
Έκδοση: (1996)

Μελέτη της διαχείρισης της κρυφής μνήμης σε πραγματικό περιβάλλον
ανά: Περγαντής, Μηνάς
Έκδοση: (2010)

Design to Test A Definite Guide for Electronic Design, Manufacture, and Service
ανά: Turino, Jon
Έκδοση: (1990)

Software Testing Techniques
ανά: Beizer, Boris
Έκδοση: (1990)

Τεχνικές και κυκλώματα εμφώλευσης συνόλου δοκιμής για τον έλεγχο VLSI συστημάτων
ανά: Παπαδημητρίου, Αθανασία
Έκδοση: (2009)

Έλεγχος ορθής λειτουργίας VLSI κυκλωμάτων Διπλωματική εργασία Πανεπιστήμιο Πάτρας Πολυτεχνική Σχολή Τμήμα Μηχανικών Ηλεκτρονικών Υπολογιστών και Πληροφορικής
ανά: Νικολός, Δ.
Έκδοση: (2002)

International Test Conference Proceedings, 1995
Έκδοση: (1995)

New frontiers in testing International test conference proceedings 1988 Washington,DC september 12,13,14 1988
Έκδοση: (1988)

Meeting the Tests of Time Proceedings of the International Test Conference 1989 August 29-31,1989, Washington, D.C.
Έκδοση: (1989)

The changing philosophy of test International test conference proceedings 1990 Washington, DC, September 10-14, 1990
Έκδοση: (1990)

Testings impact on design and technology International test conference proceedings 1986 Washington DC, september 8,9,10,11,1986
Έκδοση: (1986)

Integration of test with design and manufacturing International test conference proceedings 1987 Washington DC, september 1,2,3 1987
Έκδοση: (1987)

Testability concepts for digital ICs The Macrotest approach
ανά: Beenker, F. P., κ.ά.
Έκδοση: (1995)

Test Economis and design for testability for electronic circuits and systems
ανά: Ambler, A. P., κ.ά.
Έκδοση: (1995)

Entwerfen, Prufen, Testen Dagsthl-Seminar-Report; 6 18.2.1991-22.2.1991(9108)

Random Testing of Digital Circuits Theory and Applications
ανά: David, Rene
Έκδοση: (1998)

Αποτίμηση αρχιτεκτονικών ιεαραρχίας μνήμης επεξεργαστή για κατανάλωση ισχύος
ανά: Ζουμπούλογλου, Παρασκευάς-Πάρις
Έκδοση: (2013)

From contamination to defects, foults and yield loss Simulation and applications
ανά: Khare, Jitendra B., κ.ά.
Έκδοση: (1996)

Ανάπτυξη cache controller βασισμένο στον δίαυλο AHB bus
ανά: Γερακάρης, Δημήτρης
Έκδοση: (2014)

Software metrics for product assessment
ανά: Bache, Richard, κ.ά.
Έκδοση: (1994)

Software testing and analysis (ISSTA) Proceedings of the International Symposium. Cambridge, Massachusetts, USA, 28-30 June, 1993 ACM/SIGSOFT Vol.18, No 3, July 1993

Squid : The definitive guide /
ανά: Wessels, Duane
Έκδοση: (2004)

Υλοποίηση συστήματος κρυφών μνημών
ανά: Μπεμπέλης, Ευάγγελος
Έκδοση: (2010)

Αποτίμηση των τεχνικών μείωσης της δυναμικής ισχύος σε κρυφές μνήμες στο περιβάλλον Unisim
ανά: Γάκη, Μαρία
Έκδοση: (2009)

Συμπίεση με πρόγνωση αποστάσεων επαναχρησιμοποίησης σε κρυφές μνήμες δευτέρου επιπέδου
ανά: Σταυρόπουλος, Νικόλαος
Έκδοση: (2011)

Ανάπτυξη τεχνικής αύξησης της αξιοπιστίας των κρυφών μνημών πρώτου επιπέδου βασισμένη στη χωρική τοπικότητα των μπλοκ μνήμης
ανά: Μαυρόπουλος, Μιχαήλ
Έκδοση: (2014)

High speed VLSI interconnections modeling, analysis, and simulation
ανά: Goel, Ashok K.
Έκδοση: (1994)

Logic Testing and Design for Testability
ανά: Fujiwara, Hideo
Έκδοση: (1985)

Μείωση της κατανάλωσης ισχύος σε διασυνδετικά μέσα εντός ολοκληρωμένου χρησιμοποιώντας τεχνικές φιλτραρίσματος
ανά: Οικονόμου, Ιωάννης
Έκδοση: (2012)

Built-in test for VLSI: preudorandom techniques
ανά: Bardell, Paul H., κ.ά.
Έκδοση: (1987)

VLSI Engineering
ανά: Dillinger, Thomas E.
Έκδοση: (1988)

Μελέτη αλγορίθμων διαχείρισης κοινόχρηστης κοινής μνήμης σε συστήματα πολυπύρηνων επεξεργαστών αποτελούμενα από ετερογενείς επεξεργαστές
ανά: Γώγουλου, Ευαγγελία
Έκδοση: (2016)

VLSI memory chip design
ανά: Itoh, Kiyoo 1941-
Έκδοση: (2001)

Analog vlsi signal and information processing
ανά: Ismail, Mohammed
Έκδοση: (1994)

High-Level Test synthesis of digial VLSI Circuits
ανά: Tien-Chien Lee, Mike
Έκδοση: (1997)

Advanced low-power digital circuit techniques
ανά: Abu-Khater, Issam S., κ.ά.
Έκδοση: (1997)

Βιβλιοθήκη & Κέντρο Πληροφόρησης | Πανεπιστήμιο Πατρών

Cannot write session to /tmp/vufind_sessions/sess_pgq7p7rpj9gufpktgmjmuf320f