Test Economis and design for testability for electronic circuits and systems

• Κύριοι συγγραφείς: Ambler, A. P. (Συγγραφέας), Dear, I. D. (Συγγραφέας), Dick, J. H. (Συγγραφέας), Dislis, C. (Συγγραφέας)
• Μορφή: Βιβλίο
• Γλώσσα: English
• Έκδοση: New York Ellis Horwood Ltd c1995
• Θέματα: ELECTRONIC CIRCUITS; Έλεγχος; Δοκιμές; ΕΠΕΑΕΚ