Test Economis and design for testability for electronic circuits and systems

Λεπτομέρειες βιβλιογραφικής εγγραφής
Κύριοι συγγραφείς: Ambler, A. P. (Συγγραφέας), Dear, I. D. (Συγγραφέας), Dick, J. H. (Συγγραφέας), Dislis, C. (Συγγραφέας)
Μορφή: Βιβλίο
Γλώσσα:English
Έκδοση: New York Ellis Horwood Ltd c1995
Θέματα:
LEADER 01203nam a22003013u 4500
001 10105239
003 upatras
005 20210426115800.0
008 991022s eng
020 |a 0 13 108994 3 
040 |a Βιβλιοθήκη ΕΑΙΤΥ  |c Βιβλιοθήκη ΕΑΙΤΥ 
041 0 |a eng 
245 1 0 |a Test Economis and design for testability for electronic circuits and systems 
260 |a New York  |b Ellis Horwood Ltd  |c c1995 
300 |a x,206p.  |b fig. 
500 |a bibl. references:pp.195-202 
650 4 |a ELECTRONIC CIRCUITS  |9 113448 
650 4 |a Έλεγχος   |9 124036 
650 4 |a Δοκιμές  |9 117099 
650 4 |a ΕΠΕΑΕΚ  |9 116438 
700 1 |a Ambler, A. P.  |4 aut  |9 124038 
700 1 |a Dear, I. D.  |4 aut  |9 124039 
700 1 |a Dick, J. H.  |4 aut  |9 124040 
700 1 |a Dislis, C.  |4 aut  |9 124041 
852 |a GR-PaULI  |b ΠΑΤΡΑ  |b ΤΜΗΥΠ  |h 621.381 548 DIS  |t 1 
942 |2 ddc 
952 |0 0  |1 0  |2 ddc  |4 0  |6 621_381000000000000_548_DIS  |7 0  |8 NFIC  |9 136813  |a LISP  |b LISP  |c ALFe  |d 2016-04-24  |l 0  |o 621.381 548 DIS  |p 025000286102  |r 2016-04-24 00:00:00  |t 1  |w 2016-04-24  |y BK15  |x Μεταφορά από Τμ. Μηχανικών ΗΥ & Πληροφορικής 
999 |c 89589  |d 89589