Test Economis and design for testability for electronic circuits and systems

Test Economis and design for testability for electronic circuits and systems

Λεπτομέρειες βιβλιογραφικής εγγραφής
Κύριοι συγγραφείς:	Ambler, A. P. (Συγγραφέας), Dear, I. D. (Συγγραφέας), Dick, J. H. (Συγγραφέας), Dislis, C. (Συγγραφέας)
Μορφή:	Βιβλίο
Γλώσσα:	English
Έκδοση:	New York Ellis Horwood Ltd c1995
Θέματα:	ELECTRONIC CIRCUITS Έλεγχος Δοκιμές ΕΠΕΑΕΚ

Παρόμοια τεκμήρια

Testability concepts for digital ICs The Macrotest approach
ανά: Beenker, F. P., κ.ά.
Έκδοση: (1995)

Random Testing of Digital Circuits Theory and Applications
ανά: David, Rene
Έκδοση: (1998)

Software metrics for product assessment
ανά: Bache, Richard, κ.ά.
Έκδοση: (1994)

From contamination to defects, foults and yield loss Simulation and applications
ανά: Khare, Jitendra B., κ.ά.
Έκδοση: (1996)

Design to Test A Definite Guide for Electronic Design, Manufacture, and Service
ανά: Turino, Jon
Έκδοση: (1990)

Digital circuit testing and testability
Έκδοση: (1997)

Test and design validity Proceedings. International Test Conference, october 20-25, 1996 Washington D.C. USA
Έκδοση: (1996)

Digital electronic circuits
ανά: Glasford, Glenn M.
Έκδοση: (1988)

Software Testing Techniques
ανά: Beizer, Boris
Έκδοση: (1990)

Master Handbook of 1001 Practical Electronic Circuits
Έκδοση: (1975)

Τεχνικές και κυκλώματα εμφώλευσης συνόλου δοκιμής για τον έλεγχο VLSI συστημάτων
ανά: Παπαδημητρίου, Αθανασία
Έκδοση: (2009)

Integration of test with design and manufacturing International test conference proceedings 1987 Washington DC, september 1,2,3 1987
Έκδοση: (1987)

Testings impact on design and technology International test conference proceedings 1986 Washington DC, september 8,9,10,11,1986
Έκδοση: (1986)

International Test Conference Proceedings, 1995
Έκδοση: (1995)

The changing philosophy of test International test conference proceedings 1990 Washington, DC, September 10-14, 1990
Έκδοση: (1990)

New frontiers in testing International test conference proceedings 1988 Washington,DC september 12,13,14 1988
Έκδοση: (1988)

Meeting the Tests of Time Proceedings of the International Test Conference 1989 August 29-31,1989, Washington, D.C.
Έκδοση: (1989)

High-Level Test synthesis of digial VLSI Circuits
ανά: Tien-Chien Lee, Mike
Έκδοση: (1997)

Hierarchical Modeling for VLSI Circuit Testing
Έκδοση: (1990)

"Ελεγχος Ορθής Λειτουργίας Κρυφής Μνήμης" (Cache Memory Testing) Διπλωματική εργασία.
ανά: Μακρής, Γιώργος
Έκδοση: (1995)

Entwerfen, Prufen, Testen Dagsthl-Seminar-Report; 6 18.2.1991-22.2.1991(9108)

Defect Oriented Testing for CMOS Analog and Digital Circuits
ανά: Sachdev, Manoj
Έκδοση: (1998)

Digital integrated circuits A design prspective
ανά: Rabaey, Jan M.
Έκδοση: (1996)

Software testing and analysis (ISSTA) Proceedings of the International Symposium. Cambridge, Massachusetts, USA, 28-30 June, 1993 ACM/SIGSOFT Vol.18, No 3, July 1993

Ωλοκληρωμενη Ηλεκτρονικη Αναλογικά και ψηφιακά κυκλώματα και συστήματα
Έκδοση: (1978)

CMOS cookbook
ανά: Lancaster, Don
Έκδοση: (1977)

Electron beam testing technology
Έκδοση: (1993)

High Performance Memory New Architecture DRAMs and SRAMs -evolution and function
ανά: Prince, Betty
Έκδοση: (1996)

Nonlinear and adaptive control design
ανά: Kanellakopoulos, Ioannis, κ.ά.
Έκδοση: (1995)

Total quality control Forth Anniversary Edition
ανά: Feigenbaum, A. V.
Έκδοση: (1991)

Advanced low-power digital circuit techniques
ανά: Abu-Khater, Issam S., κ.ά.
Έκδοση: (1997)

Introduction to circuit complexity A uniform approach
ανά: Vollmer, Heribert
Έκδοση: (1999)

Applied software measurements Assuring productivity and quality
ανά: Jones, Capers
Έκδοση: (1996)

Αρχαία Ελλάδα και ποιότητα Η ιστορία και ο έλεγχος των υλικων που σημάδεψαν τον ελληνικο πολιτισμό
ανά: Βαρουφάκης, Γιώργος
Έκδοση: (1996)

Multichip module design,fabrication, and testing
ανά: Licari, James J.
Έκδοση: (1995)

Advanced Techniques for embedded systems design adn test
Έκδοση: (1998)

Applying software metrics
ανά: Oman, Paul, κ.ά.
Έκδοση: (1997)

Design and tes techniques for VLSI and WSI circuits
Έκδοση: (1989)

Algorithms for synthesis and testing of asynchronous circuits
ανά: Lavagno, Luciano, κ.ά.
Έκδοση: (1993)

Quality function deployment Integrating customer requirements into prodict design
Έκδοση: (1988)

Βιβλιοθήκη & Κέντρο Πληροφόρησης | Πανεπιστήμιο Πατρών