Testability concepts for digital ICs The Macrotest approach

• Κύριοι συγγραφείς: Beenker, F. P. (Συγγραφέας), Bennets, R. G. (Συγγραφέας), Thijssen, A. P. (Συγγραφέας)
• Μορφή: Βιβλίο
• Γλώσσα: English
• Έκδοση: Dordrecht Kluwer Academic Publishers c1995
• Θέματα: Έλεγχος; Δοκιμές; ΕΠΕΑΕΚ