Παραπομπή σε μορφή APA (7η εκδ.)

Beenker, F. P., Bennets, R. G., & Thijssen, A. P. (1995). Testability concepts for digital ICs: The Macrotest approach. Kluwer Academic Publishers.

Παραπομπή σε μορφή Chicago (17η εκδ.)

Beenker, F. P., R. G. Bennets, και A. P. Thijssen. Testability Concepts for Digital ICs: The Macrotest Approach. Dordrecht: Kluwer Academic Publishers, 1995.

Παραπομπή σε μορφή MLA (8th εκδ.)

Beenker, F. P., et al. Testability Concepts for Digital ICs: The Macrotest Approach. Kluwer Academic Publishers, 1995.