Testability concepts for digital ICs The Macrotest approach
Κύριοι συγγραφείς: | Beenker, F. P. (Συγγραφέας), Bennets, R. G. (Συγγραφέας), Thijssen, A. P. (Συγγραφέας) |
---|---|
Μορφή: | Βιβλίο |
Γλώσσα: | English |
Έκδοση: |
Dordrecht
Kluwer Academic Publishers
c1995
|
Θέματα: |
Παρόμοια τεκμήρια
-
Test Economis and design for testability for electronic circuits and systems
ανά: Ambler, A. P., κ.ά.
Έκδοση: (1995) -
Software metrics for product assessment
ανά: Bache, Richard, κ.ά.
Έκδοση: (1994) -
From contamination to defects, foults and yield loss Simulation and applications
ανά: Khare, Jitendra B., κ.ά.
Έκδοση: (1996) -
Random Testing of Digital Circuits Theory and Applications
ανά: David, Rene
Έκδοση: (1998) -
Test and design validity Proceedings. International Test Conference, october 20-25, 1996 Washington D.C. USA
Έκδοση: (1996)