Testability concepts for digital ICs The Macrotest approach

Λεπτομέρειες βιβλιογραφικής εγγραφής
Κύριοι συγγραφείς: Beenker, F. P. (Συγγραφέας), Bennets, R. G. (Συγγραφέας), Thijssen, A. P. (Συγγραφέας)
Μορφή: Βιβλίο
Γλώσσα:English
Έκδοση: Dordrecht Kluwer Academic Publishers c1995
Θέματα:

Παρόμοια τεκμήρια