From contamination to defects, foults and yield loss Simulation and applications

• Κύριοι συγγραφείς: Khare, Jitendra B. (Συγγραφέας), Maly, Wojciech (Συγγραφέας)
• Μορφή: Βιβλίο
• Γλώσσα: English
• Έκδοση: Bostn Kluwer Academic Publishers c1996
• Θέματα: CODEF; Βιομηχανοποίηση; Δοκιμές; ΕΠΕΑΕΚ
• Περιγραφή τεκμηρίου: ΕΠΕΑΕΚ/ΙΤΥ
• Φυσική περιγραφή: 150p. fig.
• ISBN: 0 7923 9714 2