From contamination to defects, foults and yield loss Simulation and applications
Κύριοι συγγραφείς: | , |
---|---|
Μορφή: | Βιβλίο |
Γλώσσα: | English |
Έκδοση: |
Bostn
Kluwer Academic Publishers
c1996
|
Θέματα: |
Μηχανικών Η/Υ και Πληροφορικής: Unknown
Ταξιθετικός Αριθμός: |
658.56 KHA |
---|---|
Αντίγραφο 1 | Στη βιβλιοθήκη |