From contamination to defects, foults and yield loss Simulation and applications

Λεπτομέρειες βιβλιογραφικής εγγραφής
Κύριοι συγγραφείς: Khare, Jitendra B. (Συγγραφέας), Maly, Wojciech (Συγγραφέας)
Μορφή: Βιβλίο
Γλώσσα:English
Έκδοση: Bostn Kluwer Academic Publishers c1996
Θέματα:

Μηχανικών Η/Υ και Πληροφορικής: Unknown

Λεπτομέρειες τεκμηρίων από Μηχανικών Η/Υ και Πληροφορικής: Unknown
Ταξιθετικός Αριθμός: 658.56 KHA
Αντίγραφο 1 Στη βιβλιοθήκη