From contamination to defects, foults and yield loss Simulation and applications

Λεπτομέρειες βιβλιογραφικής εγγραφής
Κύριοι συγγραφείς: Khare, Jitendra B. (Συγγραφέας), Maly, Wojciech (Συγγραφέας)
Μορφή: Βιβλίο
Γλώσσα:English
Έκδοση: Bostn Kluwer Academic Publishers c1996
Θέματα:
LEADER 00998nam a22002773u 4500
001 10105377
003 upatras
005 20210426115800.0
008 991022s eng
020 |a 0 7923 9714 2 
040 |a Βιβλιοθήκη ΕΑΙΤΥ  |c Βιβλιοθήκη ΕΑΙΤΥ 
041 0 |a eng 
245 1 0 |a From contamination to defects, foults and yield loss  |b Simulation and applications 
260 |a Bostn  |b Kluwer Academic Publishers  |c c1996 
300 |a 150p.  |b fig. 
500 |a ΕΠΕΑΕΚ/ΙΤΥ 
650 4 |a CODEF  |9 124393 
650 4 |a Βιομηχανοποίηση  |9 24352 
650 4 |a Δοκιμές  |9 117099 
650 4 |a ΕΠΕΑΕΚ  |9 116438 
700 1 |a Khare, Jitendra B.  |4 aut  |9 124394 
700 1 |a Maly, Wojciech  |4 aut  |9 124395 
852 |a GR-PaULI  |b ΠΑΤΡΑ  |b ΤΜΗΥΠ  |h 658.56 KHA  |t 1 
942 |2 ddc 
952 |0 0  |1 0  |4 0  |6 658_560000000000000_KHA  |7 0  |9 137222  |a CEID  |b CEID  |d 2016-04-24  |l 0  |o 658.56 KHA  |r 2016-04-24 00:00:00  |t 1  |w 2016-04-24 
999 |c 89855  |d 89855