From contamination to defects, foults and yield loss Simulation and applications
Κύριοι συγγραφείς: | Khare, Jitendra B. (Συγγραφέας), Maly, Wojciech (Συγγραφέας) |
---|---|
Μορφή: | Βιβλίο |
Γλώσσα: | English |
Έκδοση: |
Bostn
Kluwer Academic Publishers
c1996
|
Θέματα: |
Παρόμοια τεκμήρια
-
Testability concepts for digital ICs The Macrotest approach
ανά: Beenker, F. P., κ.ά.
Έκδοση: (1995) -
Test Economis and design for testability for electronic circuits and systems
ανά: Ambler, A. P., κ.ά.
Έκδοση: (1995) -
Software metrics for product assessment
ανά: Bache, Richard, κ.ά.
Έκδοση: (1994) -
Random Testing of Digital Circuits Theory and Applications
ανά: David, Rene
Έκδοση: (1998) -
Computer-Integrated Manufacturing Systems
Έκδοση: (1990)