Hierarchical Modeling for VLSI Circuit Testing

• Άλλοι συγγραφείς: Bhattacharya, Debashis, Hayes, John P.
• Μορφή: Βιβλίο
• Γλώσσα: English
• Έκδοση: Boston Kluwer Academic Publishers 1990
• Θέματα: ΕΠΕΑΕΚ; VLSI; INTEGRATED CIRCUITS; COMPUTER SIMULATION