Bhattacharya, D., & Hayes, J. P. (1990). Hierarchical Modeling for VLSI Circuit Testing. Kluwer Academic Publishers.
Παραπομπή σε μορφή Chicago (17η εκδ.)Bhattacharya, Debashis, και John P. Hayes. Hierarchical Modeling for VLSI Circuit Testing. Boston: Kluwer Academic Publishers, 1990.
Παραπομπή σε μορφή MLA (8th εκδ.)Bhattacharya, Debashis, και John P. Hayes. Hierarchical Modeling for VLSI Circuit Testing. Kluwer Academic Publishers, 1990.
Πρόσοχή: Οι παραπομπές μπορεί να μην είναι 100% ακριβείς.