Digital circuit testing and testability
| Άλλοι συγγραφείς: | |
|---|---|
| Μορφή: | Βιβλίο |
| Γλώσσα: | English |
| Έκδοση: |
San Diego
Academic Press
1997
|
| Θέματα: |
Μηχανικών Η/Υ και Πληροφορικής: Unknown
| Ταξιθετικός Αριθμός: |
621.395 LAL |
|---|---|
| Αντίγραφο 1 | Στη βιβλιοθήκη |
