Digital circuit testing and testability

• Άλλοι συγγραφείς: Lala, Parag K.
• Μορφή: Βιβλίο
• Γλώσσα: English
• Έκδοση: San Diego Academic Press 1997
• Θέματα: ΕΠΕΑΕΚ; INTEGRATED CIRCUITS; VLSI; DIGITAL INTEGRATED CIRCUITS
• Φυσική περιγραφή: xii,199p.:fig.
• ISBN: 0 12 434330 9