Digital circuit testing and testability

Λεπτομέρειες βιβλιογραφικής εγγραφής
Άλλοι συγγραφείς: Lala, Parag K.
Μορφή: Βιβλίο
Γλώσσα:English
Έκδοση: San Diego Academic Press 1997
Θέματα:
LEADER 00945nam a2200265 u 4500
001 10105489
003 upatras
005 20210117204159.0
008 991223s1997 f eng
020 |a 0 12 434330 9 
040 |a Βιβλιοθήκη ΙΤΥ  |c Βιβλιοθήκη ΙΤΥ 
040 |a XX-XxUND  |c Βιβλιοθήκη ΙΤΥ 
082 1 4 |a 621.395  |2 20th ed. 
245 1 0 |a Digital circuit testing and testability  |c Parag K. Lala, auth. 
260 |a San Diego  |b Academic Press  |c 1997 
300 |a xii,199p.:fig. 
650 4 |a ΕΠΕΑΕΚ  |9 116438 
650 4 |a INTEGRATED CIRCUITS  |9 24300 
650 4 |a VLSI  |9 24366 
650 4 |a DIGITAL INTEGRATED CIRCUITS  |9 124354 
700 1 |a Lala, Parag K.  |9 116564 
852 |a GR-PaULI  |b ΠΑΤΡΑ  |b ΤΜΗΥΠ  |h 621.395 LAL  |t 1 
942 |2 ddc 
952 |0 0  |1 0  |4 0  |6 621_395000000000000_LAL  |7 0  |9 137631  |a CEID  |b CEID  |d 2016-04-24  |l 0  |o 621.395 LAL  |r 2016-04-24 00:00:00  |t 1  |w 2016-04-24 
999 |c 90078  |d 90078