Digital circuit testing and testability
| Άλλοι συγγραφείς: | Lala, Parag K. |
|---|---|
| Μορφή: | Βιβλίο |
| Γλώσσα: | English |
| Έκδοση: |
San Diego
Academic Press
1997
|
| Θέματα: |
Παρόμοια τεκμήρια
-
Random Testing of Digital Circuits Theory and Applications
ανά: David, Rene
Έκδοση: (1998) -
Digital integrated circuits A design prspective
ανά: Rabaey, Jan M.
Έκδοση: (1996) -
High-Level Test synthesis of digial VLSI Circuits
ανά: Tien-Chien Lee, Mike
Έκδοση: (1997) -
Hierarchical Modeling for VLSI Circuit Testing
Έκδοση: (1990) -
Logic Testing and Design for Testability
ανά: Fujiwara, Hideo
Έκδοση: (1985)