Digital circuit testing and testability
Άλλοι συγγραφείς: | Lala, Parag K. |
---|---|
Μορφή: | Βιβλίο |
Γλώσσα: | English |
Έκδοση: |
San Diego
Academic Press
1997
|
Θέματα: |
Παρόμοια τεκμήρια
-
Random Testing of Digital Circuits Theory and Applications
ανά: David, Rene
Έκδοση: (1998) -
Digital integrated circuits A design prspective
ανά: Rabaey, Jan M.
Έκδοση: (1996) -
High-Level Test synthesis of digial VLSI Circuits
ανά: Tien-Chien Lee, Mike
Έκδοση: (1997) -
Logic Testing and Design for Testability
ανά: Fujiwara, Hideo
Έκδοση: (1985) -
Digital MOS integrated circuits
Έκδοση: (1981)