Μετάβαση στο περιεχόμενο
VuFind
Γλώσσα
English
Ελληνικά
Όλα τα πεδία
Τίτλος
Συγγραφέας
Θέμα
Ταξιθετικός Αριθμός
ISBN/ISSN
Ετικέτα
Αναζήτηση
Σύνθετη
Test and design validity
Εμφάνιση παραπομπής
Αποστολή με SMS
Αποστολή με email
Εκτύπωση
Αποθήκευση
Αποθήκευση σε EndNoteWeb
Αποθήκευση σε BibTeX
Αποθήκευση σε RIS
Μόνιμος σύνδεσμος
Test and design validity Proceedings. International Test Conference, october 20-25, 1996 Washington D.C. USA
Λεπτομέρειες βιβλιογραφικής εγγραφής
Μορφή:
Βιβλίο
Γλώσσα:
Greek
Έκδοση:
IEEE
1996
Θέματα:
Δοκιμές
Τεκμήρια
Περιγραφή
Παρόμοια τεκμήρια
Λεπτομερής προβολή
Μηχανικών Η/Υ και Πληροφορικής: Unknown
Λεπτομέρειες τεκμηρίων από Μηχανικών Η/Υ και Πληροφορικής: Unknown
Ταξιθετικός Αριθμός:
621.381 548
Αντίγραφο 1
Στη βιβλιοθήκη
Παρόμοια τεκμήρια
Meeting the Tests of Time Proceedings of the International Test Conference 1989 August 29-31,1989, Washington, D.C.
Έκδοση: (1989)
Integration of test with design and manufacturing International test conference proceedings 1987 Washington DC, september 1,2,3 1987
Έκδοση: (1987)
Testings impact on design and technology International test conference proceedings 1986 Washington DC, september 8,9,10,11,1986
Έκδοση: (1986)
Design to Test A Definite Guide for Electronic Design, Manufacture, and Service
ανά: Turino, Jon
Έκδοση: (1990)
The changing philosophy of test International test conference proceedings 1990 Washington, DC, September 10-14, 1990
Έκδοση: (1990)
Βιβλιοθήκη & Κέντρο Πληροφόρησης
|
Πανεπιστήμιο Πατρών
