Παραπομπή σε μορφή APA (7η εκδ.)

(1996). Test and design validity: Proceedings. International Test Conference, october 20-25, 1996 Washington D.C. USA. IEEE.

Παραπομπή σε μορφή Chicago (17η εκδ.)

Test and Design Validity: Proceedings. International Test Conference, October 20-25, 1996 Washington D.C. USA. IEEE, 1996.

Παραπομπή σε μορφή MLA (8th εκδ.)

Test and Design Validity: Proceedings. International Test Conference, October 20-25, 1996 Washington D.C. USA. IEEE, 1996.