Test and design validity Proceedings. International Test Conference, october 20-25, 1996 Washington D.C. USA

Λεπτομέρειες βιβλιογραφικής εγγραφής
Μορφή: Βιβλίο
Γλώσσα:Greek
Έκδοση: IEEE 1996
Θέματα:
LEADER 00748nam a2200193 u 4500
001 10105901
003 upatras
005 20210426115800.0
008 001031s gre
020 |a 0 7803 3541 4 
040 |a Βιβλιοθηκη ΙΤΥ  |c Βιβλιοθηκη ΙΤΥ 
040 |a XX-XxUND  |c Βιβλιοθηκη ΙΤΥ 
245 1 0 |a Test and design validity  |b Proceedings. International Test Conference, october 20-25, 1996 Washington D.C. USA 
260 |b IEEE  |c 1996 
650 4 |a Δοκιμές  |9 117099 
852 |a GR-PaULI  |b ΠΑΤΡΑ  |b ΤΜΗΥΠ  |h 621.381 548  |t 1 
942 |2 ddc 
952 |0 0  |1 0  |4 0  |6 621_381000000000000_548  |7 0  |9 138930  |a CEID  |b CEID  |d 2016-04-24  |l 0  |o 621.381 548  |r 2016-04-24 00:00:00  |t 1  |w 2016-04-24 
999 |c 90875  |d 90875