Test and design validity Proceedings. International Test Conference, october 20-25, 1996 Washington D.C. USA

Λεπτομέρειες βιβλιογραφικής εγγραφής
Μορφή: Βιβλίο
Γλώσσα:Greek
Έκδοση: IEEE 1996
Θέματα:

Παρόμοια τεκμήρια