Point defects in semiconductors II experimental aspects
| Κύριοι συγγραφείς: | , |
|---|---|
| Μορφή: | Βιβλίο |
| Γλώσσα: | English |
| Έκδοση: |
Berlin
Springer-Verlag
1983
|
| Σειρά: | Springer series in solid state sciences
35 |
| Θέματα: |
ΒΚΠ - Πατρα: BSC
| Ταξιθετικός Αριθμός: |
537.622 6 BOU |
|---|---|
| Αντίγραφο 1 | Στη βιβλιοθήκη |
Φυσικό: Unknown
| Ταξιθετικός Αριθμός: |
537.622 6 B |
|---|---|
| Αντίγραφο 2 | Στη βιβλιοθήκη |
