Bourgoin, J., & Lannoo, M. (1983). Point defects in semiconductors II: Experimental aspects. Springer-Verlag.
Παραπομπή σε μορφή Chicago (17η εκδ.)Bourgoin, Jacques, και M. Lannoo. Point Defects in Semiconductors II: Experimental Aspects. Berlin: Springer-Verlag, 1983.
Παραπομπή σε μορφή MLA (8th εκδ.)Bourgoin, Jacques, και M. Lannoo. Point Defects in Semiconductors II: Experimental Aspects. Springer-Verlag, 1983.
Πρόσοχή: Οι παραπομπές μπορεί να μην είναι 100% ακριβείς.