Point defects in semiconductors II experimental aspects

• Κύριοι συγγραφείς: Bourgoin, Jacques (Συγγραφέας), Lannoo, M. (Συγγραφέας)
• Μορφή: Βιβλίο
• Γλώσσα: English
• Έκδοση: Berlin Springer-Verlag 1983
• Σειρά: Springer series in solid state sciences 35
• Θέματα: Ημιαγωγοί
• Φυσική περιγραφή: xvi, 295 p. fig. 24 cm.
• Βιβλιογραφία: Includes bibliographic references and index
• ISBN: 3540115153