Point defects in semiconductors II experimental aspects

Λεπτομέρειες βιβλιογραφικής εγγραφής
Κύριοι συγγραφείς: Bourgoin, Jacques (Συγγραφέας), Lannoo, M. (Συγγραφέας)
Μορφή: Βιβλίο
Γλώσσα:English
Έκδοση: Berlin Springer-Verlag 1983
Σειρά:Springer series in solid state sciences 35
Θέματα:
LEADER 01386nam a2200313 u 4500
001 10010002
003 upatras
005 20160425001831.0
008 881025s1983 ge eng
020 |a 3540115153 
040 |a GR-PaULI  |c GR-PaULI 
041 0 |a eng 
082 0 4 |a 537.622 6 
100 1 |a Bourgoin, Jacques  |4 aut  |9 4377 
245 1 0 |a Point defects in semiconductors II  |b experimental aspects  |c J. Bourgoin, M. Lannoo; with a foreword by G.D. Watkins 
260 |a Berlin  |b Springer-Verlag  |c 1983 
300 |a xvi, 295 p.  |b fig.  |c 24 cm. 
490 0 |a Springer series in solid state sciences  |v 35 
504 |a Includes bibliographic references and index 
650 4 |a Ημιαγωγοί  |9 722 
700 1 |a Lannoo, M.  |4 aut  |9 125721 
760 1 |a Springer series in solid-state sciences  |g 35 
852 |a GR-PaULI  |b ΠΑΤΡΑ  |b ΒΚΠ  |b ΒΣ1  |k ΑΣΧΞ  |h 537.622 6 BOU  |m 19209  |p 025000241210  |t 1 
852 |a GR-PaULI  |b ΠΑΤΡΑ  |b ΦΥΣΙΚΟ  |k ΑΣΧΞ-1  |h 537.622 6 B  |m 19219  |t 2 
942 |2 ddc  |c BK15 
952 |0 0  |1 0  |4 0  |6 537_622000000000000_6_BOU  |7 0  |9 139259  |a LISP  |b LISP  |c BSC  |d 2016-04-24  |i 19209  |l 0  |o 537.622 6 BOU  |p 025000241210  |r 2016-04-24 00:00:00  |t 1  |w 2016-04-24  |y BK15 
952 |0 0  |1 0  |4 0  |6 537_622000000000000_6_B  |7 0  |9 139260  |a PHYS  |b PHYS  |d 2016-04-24  |i 19219  |l 0  |o 537.622 6 B  |r 2016-04-24 00:00:00  |t 2  |w 2016-04-24  |y BK15 
998 |c ΒΑΣΙΛΕΙΟΥ  |d 2014-10 
999 |c 91070  |d 91070