Point defects in semiconductors II experimental aspects
| Κύριοι συγγραφείς: | Bourgoin, Jacques (Συγγραφέας), Lannoo, M. (Συγγραφέας) |
|---|---|
| Μορφή: | Βιβλίο |
| Γλώσσα: | English |
| Έκδοση: |
Berlin
Springer-Verlag
1983
|
| Σειρά: | Springer series in solid state sciences
35 |
| Θέματα: |
Παρόμοια τεκμήρια
-
Point defects in semiconductors II experimental aspects
ανά: Bourgoin, Jacques
Έκδοση: (1983) -
Defect electronics in semiconductors
ανά: Matare, Herbert F.
Έκδοση: (1971) -
Photoinduced defects in semiconductors
ανά: Redfield, David
Έκδοση: (1996) -
Semiconductor devices physics and technology
ανά: Sze, S. M., 1936-
Έκδοση: (1985) -
Semiconductors basic data
Έκδοση: (1996)