Point defects in semiconductors II experimental aspects

Λεπτομέρειες βιβλιογραφικής εγγραφής
Κύριοι συγγραφείς: Bourgoin, Jacques (Συγγραφέας), Lannoo, M. (Συγγραφέας)
Μορφή: Βιβλίο
Γλώσσα:English
Έκδοση: Berlin Springer-Verlag 1983
Σειρά:Springer series in solid state sciences 35
Θέματα:

Παρόμοια τεκμήρια