VLSI test principles and architectures : design for testability /

VLSI test principles and architectures : design for testability /

Εμφάνιση άλλων εκδόσεων (1)
Λεπτομέρειες βιβλιογραφικής εγγραφής
Άλλοι συγγραφείς: Wang, Laung-Terng (επιμελητής.), Wu, Cheng-Wen (επιμελητής.), Wen, Xiaoqing (επιμελητής.)
Μορφή: Βιβλίο
Γλώσσα:English
Έκδοση: Amsterdam ; Boston : Elsevier Morgan Kaufmann Publishers, c2006.
Σειρά:The Morgan Kaufmann series in systems on silicon
Θέματα:
Ολοκληρωμένα κυκλώματα > Ολοκλήρωση πολύ μεγάλης κλίμακας.
LEADER 04552cam a22004334a 4500
001 14278872
003 GR-PaULI
005 20210705133249.0
008 060227s2006 ne a b 001 0 eng
952 |0 0  |1 0  |2 ddc  |4 0  |6 621_395000000000000_VLS  |7 0  |8 NFIC  |9 143821  |a LISP  |b LISP  |c BSC  |d 2016-04-24  |i 007383  |l 0  |o 621.395 VLS  |p 025000281422  |r 2016-04-24 00:00:00  |t 1  |v 2016.00  |w 2016-04-24  |y BK15  |x Μεταφορά από Τμ. Μηχανικών ΗΥ & Πληροφορικής 
952 |0 0  |1 0  |2 ddc  |4 0  |6 621_395000000000000_VLS  |7 0  |8 NFIC  |9 143822  |a LISP  |b LISP  |c BSC  |d 2016-04-24  |i 151643  |l 0  |o 621.395 VLS  |p 025000281421  |r 2016-04-24 00:00:00  |t 2  |v 2016.00  |w 2016-04-24  |y BK15  |x Μεταφορά από Τμ. Μηχανικών ΗΥ & Πληροφορικής 
952 |0 0  |1 0  |2 ddc  |4 0  |6 621_395000000000000_VLS  |7 0  |8 NFIC  |9 143823  |a LISP  |b LISP  |c ALFe  |d 2016-04-24  |i 033619  |l 0  |o 621.395 VLS  |p 025000281420  |r 2016-04-24 00:00:00  |t 3  |v 2016.00  |w 2016-04-24  |y BK15  |x Μεταφορά από Τμ. Μηχανικών ΗΥ & Πληροφορικής 
952 |0 0  |1 0  |2 ddc  |4 0  |6 621_395000000000000_VLS  |7 0  |8 NFIC  |9 143824  |a LISP  |b LISP  |c ALFe  |d 2016-04-24  |i 143946  |l 0  |o 621.395 VLS  |p 025000281419  |r 2016-04-24 00:00:00  |t 4  |v 2016.00  |w 2016-04-24  |y BK15  |x Μεταφορά από Τμ. Μηχανικών ΗΥ & Πληροφορικής 
952 |0 0  |1 0  |2 ddc  |4 0  |6 621_395000000000000_VLS  |7 0  |8 NFIC  |9 143825  |a LISP  |b LISP  |c ALFe  |d 2016-04-24  |i 144532  |l 0  |o 621.395 VLS  |p 025000281415  |r 2016-04-24 00:00:00  |t 6  |v 2016.00  |w 2016-04-24  |y BK15  |x Μεταφορά από Τμ. Μηχανικών ΗΥ & Πληροφορικής 
952 |0 0  |1 0  |2 ddc  |4 0  |6 621_395000000000000_VLS  |7 0  |8 NFIC  |9 143826  |a LISP  |b LISP  |c ALFe  |d 2016-04-24  |i 144408  |l 0  |o 621.395 VLS  |p 025000281418  |r 2016-04-24 00:00:00  |t 7  |v 2016.00  |w 2016-04-24  |y BK15  |x Μεταφορά από Τμ. Μηχανικών ΗΥ & Πληροφορικής 
952 |0 0  |1 0  |2 ddc  |4 0  |6 621_395000000000000_VLS  |7 0  |8 NFIC  |9 143827  |a LISP  |b LISP  |c ALFe  |d 2016-04-24  |i 151761  |l 0  |o 621.395 VLS  |p 025000281417  |r 2016-04-24 00:00:00  |t 8  |v 2016.00  |w 2016-04-24  |y BK15  |x Μεταφορά από Τμ. Μηχανικών ΗΥ & Πληροφορικής 
952 |0 0  |1 0  |2 ddc  |4 0  |6 621_395000000000000_VLS  |7 0  |8 NFIC  |9 143828  |a LISP  |b LISP  |c ALFe  |d 2016-04-24  |i 151762  |l 0  |o 621.395 VLS  |p 025000281414  |r 2016-04-24 00:00:00  |t 9  |v 2016.00  |w 2016-04-24  |y BK15  |x Μεταφορά από Τμ. Μηχανικών ΗΥ & Πληροφορικής 
952 |0 0  |1 0  |2 ddc  |4 0  |6 621_395000000000000_VLS  |7 0  |8 NFIC  |9 143829  |a LISP  |b LISP  |c ALFe  |d 2016-04-24  |i 151763  |l 0  |o 621.395 VLS  |p 025000281413  |r 2016-04-24 00:00:00  |t 10  |v 2016.00  |w 2016-04-24  |y BK15  |x Μεταφορά από Τμ. Μηχανικών ΗΥ & Πληροφορικής 
952 |0 0  |1 0  |2 ddc  |4 0  |6 621_395000000000000_VLS  |7 0  |8 NFIC  |9 143832  |a LISP  |b LISP  |c ALFe  |d 2016-04-24  |i 143673  |l 0  |o 621.395 VLS  |p 025000281416  |r 2016-04-24 00:00:00  |t 5  |v 2016.00  |w 2016-04-24  |y BK15  |x Μεταφορά από Τμ. Μηχανικών ΗΥ & Πληροφορικής 
952 |0 0  |1 0  |2 ddc  |4 0  |6 621_395000000000000_VLS  |7 0  |8 NFIC  |9 326568  |a LISP  |b LISP  |c ALFe  |d 2021-07-05  |i 151766  |l 0  |o 621.395 VLS  |p 025000281267  |r 2021-07-05 00:00:00  |t 12  |v 2021.00  |w 2021-07-05  |y BK15  |x Μεταφορά από Τμ. Μηχανικών ΗΥ & Πληροφορικής 
952 |0 0  |1 0  |2 ddc  |4 0  |6 621_395000000000000_VLS  |7 0  |8 NFIC  |9 326580  |a LISP  |b LISP  |c ALFe  |d 2021-07-05  |i 151765  |l 0  |o 621.395 VLS  |p 025000281259  |r 2021-07-05 00:00:00  |t 11  |v 2021.00  |w 2021-07-05  |y BK15  |x Μεταφορά από Τμ. Μηχανικών ΗΥ & Πληροφορικής 
999 |c 93660  |d 93660 
010 |a  2006006869 
020 |a 0123705975 (σκληρό εξώφυλλο) 
020 |a 9780123705976 
040 |a DLC  |c GR-PaULI  |b gre  |e AACR2 
082 0 4 |a 621.395  |2 23 
245 0 0 |a VLSI test principles and architectures :  |b design for testability /  |c edited by Laung-Terng Wang, Cheng-Wen Wu, Xiaoqing Wen. 
260 |a Amsterdam ;  |a Boston :  |b Elsevier Morgan Kaufmann Publishers,  |c c2006. 
300 |a xxx, 777 σ. :  |b εικ. ;  |c 25 εκ. 
490 1 |a The Morgan Kaufmann series in systems on silicon  
504 |a Περιλαμβάνει βιβλιογραφικές παραπομπές και ευρετήριο.  
650 4 |9 35013  |a Ολοκληρωμένα κυκλώματα  |x Ολοκλήρωση πολύ μεγάλης κλίμακας. 
700 1 |a Wang, Laung-Terng.  |9 169496  |e επιμελητής. 
700 1 |a Wu, Cheng-Wen.  |9 169497  |e επιμελητής. 
700 |a Wen, Xiaoqing  |9 99762  |e επιμελητής. 
830 0 |9 186583  |a The Morgan Kaufmann series in systems on silicon  
942 |2 ddc  |c BK15 
998 |c ΜΠΟΥΡΑΣ  |d 2021-07 

Παρόμοια τεκμήρια