VLSI test principles and architectures : design for testability /
Άλλοι συγγραφείς: | Wang, Laung-Terng (επιμελητής.), Wu, Cheng-Wen (επιμελητής.), Wen, Xiaoqing (επιμελητής.) |
---|---|
Μορφή: | Βιβλίο |
Γλώσσα: | English |
Έκδοση: |
Amsterdam ; Boston :
Elsevier Morgan Kaufmann Publishers,
c2006.
|
Σειρά: | The Morgan Kaufmann series in systems on silicon
|
Θέματα: |
Παρόμοια τεκμήρια
-
VLSI test principles and architectures : design for testability /
Έκδοση: (2006) -
System-on-chip test architectures : nanometer design for testability /
Έκδοση: (2008) -
IDDQ testing of VLSI circuits /
Έκδοση: (1997) -
Essentials of electronic testing for digital, memory, and mixed-signal VLSI circuits /
ανά: Bushnell, Michael L. (Michael Lee), 1950-
Έκδοση: (2000) -
The design and analysis of VLSI circuits /
ανά: Glasser, Lance A.
Έκδοση: (1985)