VLSI test principles and architectures : design for testability /

Λεπτομέρειες βιβλιογραφικής εγγραφής
Άλλοι συγγραφείς: Wang, Laung-Terng (επιμελητής.), Wu, Cheng-Wen (επιμελητής.), Wen, Xiaoqing (επιμελητής.)
Μορφή: Βιβλίο
Γλώσσα:English
Έκδοση: Amsterdam ; Boston : Elsevier Morgan Kaufmann Publishers, c2006.
Σειρά:The Morgan Kaufmann series in systems on silicon
Θέματα:

Παρόμοια τεκμήρια