VLSI test principles and architectures : design for testability /

• Other Authors: Wang, Laung-Terng (επιμελητής.), Wu, Cheng-Wen (επιμελητής.), Wen, Xiaoqing (επιμελητής.)
• Format: Book
• Language: English
• Published: Amsterdam ; Boston : Elsevier Morgan Kaufmann Publishers, c2006.
• Series: The Morgan Kaufmann series in systems on silicon
• Subjects: Ολοκληρωμένα κυκλώματα > Ολοκλήρωση πολύ μεγάλης κλίμακας.