Fault Diagnosis of Analog Integrated Circuits

System on Chip (SOC) having both digital and analog circuits has become increasingly prevalent in integrated circuit manufacturing industry. Electronic tests are classified as digital, analog and mixed signal. Current methodologies for the testing of digital circuits are well developed. In contrast,...

Πλήρης περιγραφή

Λεπτομέρειες βιβλιογραφικής εγγραφής
Κύριοι συγγραφείς: Kabisatpathy, Prithviraj (Συγγραφέας), Barua, Alok (Συγγραφέας), Sinha, Satyabroto (Συγγραφέας)
Συγγραφή απο Οργανισμό/Αρχή: SpringerLink (Online service)
Μορφή: Ηλεκτρονική πηγή Ηλ. βιβλίο
Γλώσσα:English
Έκδοση: Boston, MA : Springer US, 2005.
Σειρά:Frontiers in Electronic Testing, 30
Θέματα:
Διαθέσιμο Online:Full Text via HEAL-Link
Search Result 1
ανά Kabisatpathy, Prithviraj
Έκδοση 2005
Λήψη πλήρους κειμένου
Ηλεκτρονική πηγή Εργαλειοθήκη Βιβλίο