Scanning Probe Microscopy Electrical and Electromechanical Phenomena at the Nanoscale /
Scanning Probe Microscopy brings up to date a constantly growing knowledge base of electrical and electromechanical characterization at the nanoscale. This comprehensive, two-volume set presents practical and theoretical issues of advanced scanning probe microscopy (SPM) techniques ranging from fund...
Συγγραφή απο Οργανισμό/Αρχή: | SpringerLink (Online service) |
---|---|
Άλλοι συγγραφείς: | Kalinin, Sergei (Επιμελητής έκδοσης), Gruverman, Alexei (Επιμελητής έκδοσης) |
Μορφή: | Ηλεκτρονική πηγή Ηλ. βιβλίο |
Γλώσσα: | English |
Έκδοση: |
New York, NY :
Springer New York,
2007.
|
Θέματα: | |
Διαθέσιμο Online: | Full Text via HEAL-Link |
Παρόμοια τεκμήρια
-
Scanning Probe Microscopy Atomic Scale Engineering by Forces and Currents /
ανά: Foster, Adam, κ.ά.
Έκδοση: (2006) -
Transmission Electron Microscopy and Diffractometry of Materials
ανά: Fultz, Brent, κ.ά.
Έκδοση: (2008) -
Surface Microscopy with Low Energy Electrons
ανά: Bauer, Ernst
Έκδοση: (2014) -
Fundamentals of Nanoscale Film Analysis
ανά: Alford, Terry L., κ.ά.
Έκδοση: (2007) -
X-ray and Neutron Reflectivity Principles and Applications /
Έκδοση: (2009)