Power-Aware Testing and Test Strategies for Low Power Devices

• Συγγραφή απο Οργανισμό/Αρχή: SpringerLink (Online service)
• Άλλοι συγγραφείς: Girard, Patrick (Επιμελητής έκδοσης), Nicolici, Nicola (Επιμελητής έκδοσης), Wen, Xiaoqing (Επιμελητής έκδοσης)
• Μορφή: Ηλεκτρονική πηγή Ηλ. βιβλίο
• Γλώσσα: English
• Έκδοση: Boston, MA : Springer US, 2010.
• Θέματα: Engineering.; Computer-aided engineering.; Electronic circuits.; Circuits and Systems.; Computer-Aided Engineering (CAD, CAE) and Design.

Power-Aware Testing and Test Strategies for Low-Power Devices Edited by: Patrick Girard, Research Director, CNRS / LIRMM, France Nicola Nicolici, Associate Professor, McMaster University, Canada Xiaoqing Wen, Professor, Kyushu Institute of Technology, Japan Managing the power consumption of circuits...