Process Variations and Probabilistic Integrated Circuit Design

Uncertainty in key parameters within a chip and between different chips in the deep sub micron era plays a more and more important role. As a result, manufacturing process spreads need to be considered during the design process.  Quantitative methodology is needed to ensure faultless functionality,...

Πλήρης περιγραφή

Λεπτομέρειες βιβλιογραφικής εγγραφής
Συγγραφή απο Οργανισμό/Αρχή: SpringerLink (Online service)
Άλλοι συγγραφείς: Dietrich, Manfred (Επιμελητής έκδοσης), Haase, Joachim (Επιμελητής έκδοσης)
Μορφή: Ηλεκτρονική πηγή Ηλ. βιβλίο
Γλώσσα:English
Έκδοση: New York, NY : Springer New York, 2012.
Θέματα:
Διαθέσιμο Online:Full Text via HEAL-Link

Παρόμοια τεκμήρια