Walkosz, W. (2011). Atomic Scale Characterization and First-Principles Studies of Si₃N₄ Interfaces. Springer New York.
Παραπομπή σε μορφή Chicago (17η εκδ.)Walkosz, Weronika. Atomic Scale Characterization and First-Principles Studies of Si₃N₄ Interfaces. New York, NY: Springer New York, 2011.
Παραπομπή σε μορφή MLA (8th εκδ.)Walkosz, Weronika. Atomic Scale Characterization and First-Principles Studies of Si₃N₄ Interfaces. Springer New York, 2011.
Πρόσοχή: Οι παραπομπές μπορεί να μην είναι 100% ακριβείς.