He, M., & Lu, T. (2012). Metal-Dielectric Interfaces in Gigascale Electronics: Thermal and Electrical Stability. Springer New York.
Παραπομπή σε μορφή Chicago (17η εκδ.)He, Ming, και Toh-Ming Lu. Metal-Dielectric Interfaces in Gigascale Electronics: Thermal and Electrical Stability. New York, NY: Springer New York, 2012.
Παραπομπή σε μορφή MLA (8th εκδ.)He, Ming, και Toh-Ming Lu. Metal-Dielectric Interfaces in Gigascale Electronics: Thermal and Electrical Stability. Springer New York, 2012.
Πρόσοχή: Οι παραπομπές μπορεί να μην είναι 100% ακριβείς.