Integrated Circuit Test Engineering Modern Techniques /
Nearly sixty years ago, the first successful demonstration of the transistor proved to be the herald of a new era of microelectronics. The ever-increasing complexity and functional speed of microelectronic circuits now containing tens of millions of transistors demand appropriate and rigorous test e...
| Κύριος συγγραφέας: | |
|---|---|
| Συγγραφή απο Οργανισμό/Αρχή: | |
| Μορφή: | Ηλεκτρονική πηγή Ηλ. βιβλίο |
| Γλώσσα: | English |
| Έκδοση: |
London :
Springer London,
2006.
|
| Θέματα: | |
| Διαθέσιμο Online: | Full Text via HEAL-Link |
Διαδίκτυο
Full Text via HEAL-LinkΒΚΠ - Πατρα: ALFd
| Ταξιθετικός Αριθμός: |
330.01 BAU |
|---|---|
| Αντίγραφο 1 | Στη βιβλιοθήκη |
ΒΚΠ - Πατρα: BSC
| Ταξιθετικός Αριθμός: |
330.01 BAU |
|---|---|
| Αντίγραφο 2 | Στη βιβλιοθήκη |
| Αντίγραφο 3 | Στη βιβλιοθήκη |