Wang, R., & Chakrabarty, K. (2017). Testing of Interposer-Based 2.5D Integrated Circuits. Springer International Publishing : Imprint: Springer.
Παραπομπή σε μορφή Chicago (17η εκδ.)Wang, Ran, και Krishnendu Chakrabarty. Testing of Interposer-Based 2.5D Integrated Circuits. Cham: Springer International Publishing : Imprint: Springer, 2017.
Παραπομπή σε μορφή MLA (8th εκδ.)Wang, Ran, και Krishnendu Chakrabarty. Testing of Interposer-Based 2.5D Integrated Circuits. Springer International Publishing : Imprint: Springer, 2017.
Πρόσοχή: Οι παραπομπές μπορεί να μην είναι 100% ακριβείς.