Timing Performance of Nanometer Digital Circuits Under Process Variations

This book discusses the digital design of integrated circuits under process variations, with a focus on design-time solutions. The authors describe a step-by-step methodology, going from logic gates to logic paths to the circuit level. Topics are presented in comprehensively, without overwhelming us...

Πλήρης περιγραφή

Λεπτομέρειες βιβλιογραφικής εγγραφής
Κύριοι συγγραφείς: Champac, Victor (Συγγραφέας, http://id.loc.gov/vocabulary/relators/aut), Garcia Gervacio, Jose (http://id.loc.gov/vocabulary/relators/aut)
Συγγραφή απο Οργανισμό/Αρχή: SpringerLink (Online service)
Μορφή: Ηλεκτρονική πηγή Ηλ. βιβλίο
Γλώσσα:English
Έκδοση: Cham : Springer International Publishing : Imprint: Springer, 2018.
Έκδοση:1st ed. 2018.
Σειρά:Frontiers in Electronic Testing, 39
Θέματα:
Διαθέσιμο Online:Full Text via HEAL-Link

Διαδίκτυο

Full Text via HEAL-Link

ΒΚΠ - Πατρα: ALFd

Λεπτομέρειες τεκμηρίων από ΒΚΠ - Πατρα: ALFd
Ταξιθετικός Αριθμός: 330.01 BAU
Αντίγραφο 1 Στη βιβλιοθήκη

ΒΚΠ - Πατρα: BSC

Λεπτομέρειες τεκμηρίων από ΒΚΠ - Πατρα: BSC
Ταξιθετικός Αριθμός: 330.01 BAU
Αντίγραφο 2 Στη βιβλιοθήκη
Αντίγραφο 3 Στη βιβλιοθήκη