Παραπομπή σε μορφή APA (7η εκδ.)

Mrozek, I., & Mrozek, I. (2019). Multi-run Memory Tests for Pattern Sensitive Faults (1st ed. 2019.). Springer International Publishing : Imprint: Springer. https://doi.org/10.1007/978-3-319-91204-2

Παραπομπή σε μορφή Chicago (17η εκδ.)

Mrozek, Ireneusz, και Ireneusz Mrozek. Multi-run Memory Tests for Pattern Sensitive Faults. 1st ed. 2019. Cham: Springer International Publishing : Imprint: Springer, 2019. https://doi.org/10.1007/978-3-319-91204-2.

Παραπομπή σε μορφή MLA (8th εκδ.)

Mrozek, Ireneusz, και Ireneusz Mrozek. Multi-run Memory Tests for Pattern Sensitive Faults. 1st ed. 2019. Springer International Publishing : Imprint: Springer, 2019. https://doi.org/10.1007/978-3-319-91204-2.