Nanotechnology Assessment and Perspectives /

• Κύριοι συγγραφείς: Brune, H. (Συγγραφέας), Ernst, H. (Συγγραφέας), Grunwald, A. (Συγγραφέας), Grünwald, W. (Συγγραφέας), Hofmann, H. (Συγγραφέας), Krug, H. (Συγγραφέας), Janich, P. (Συγγραφέας), Mayor, M. (Συγγραφέας), Rathgeber, W. (Συγγραφέας), Schmid, G. (Συγγραφέας), Simon, U. (Συγγραφέας), Vogel, V. (Συγγραφέας), Wyrwa, D. (Συγγραφέας)
• Συγγραφή απο Οργανισμό/Αρχή: SpringerLink (Online service)
• Μορφή: Ηλεκτρονική πηγή Ηλ. βιβλίο
• Γλώσσα: English
• Έκδοση: Berlin, Heidelberg : Springer Berlin Heidelberg, 2006.
• Σειρά: Wissenschaftsethik und Technikfolgenbeurteilung, Schriftenreihe der Europäischen Akademie zur Erforschung von Folgen wissenschaftlich-technischer Entwicklungen Bad Neuenahr-Ahrweiler GmbH, 27
• Θέματα: Materials science.; Continuum mechanics.; Electronics.; Microelectronics.; Nanotechnology.; Materials Science.; Electronics and Microelectronics, Instrumentation.; Continuum Mechanics and Mechanics of Materials.

"Nanotechnology. Assessment and Perspectives" tackles the subject of Nanotechnology in a new and unique way. Accounting for the fact that the differences between classical academic disciplines disappear at the nanoscale, a truly interdisciplinary approach is chosen. Authors from areas like...