Applied Scanning Probe Methods IX Characterization /

• Συγγραφή απο Οργανισμό/Αρχή: SpringerLink (Online service)
• Άλλοι συγγραφείς: Tomitori, Masahiko (Επιμελητής έκδοσης), Bhushan, Bharat (Επιμελητής έκδοσης), Fuchs, Harald (Επιμελητής έκδοσης)
• Μορφή: Ηλεκτρονική πηγή Ηλ. βιβλίο
• Γλώσσα: English
• Έκδοση: Berlin, Heidelberg : Springer Berlin Heidelberg, 2008.
• Σειρά: Nano Science and Technolgy,
• Θέματα: Engineering.; Polymers.; Surfaces (Physics).; Interfaces (Physical sciences).; Thin films.; Spectroscopy.; Microscopy.; Nanotechnology.; Materials > Surfaces.; Nanotechnology and Microengineering.; Spectroscopy and Microscopy.; Surface and Interface Science, Thin Films.; Surfaces and Interfaces, Thin Films.; Polymer Sciences.

The success of the Springer Series Applied Scanning Probe Methods I–VII and the rapidly expanding activities in scanning probe development and applications worldwide made it a natural step to collect further speci c results in the elds of development of scanning probe microscopy techniques (Vol. VII...