Noncontact Atomic Force Microscopy Volume 2 /

• Συγγραφή απο Οργανισμό/Αρχή: SpringerLink (Online service)
• Άλλοι συγγραφείς: Morita, Seizo (Επιμελητής έκδοσης), Giessibl, Franz J. (Επιμελητής έκδοσης), Wiesendanger, Roland (Επιμελητής έκδοσης)
• Μορφή: Ηλεκτρονική πηγή Ηλ. βιβλίο
• Γλώσσα: English
• Έκδοση: Berlin, Heidelberg : Springer Berlin Heidelberg, 2009.
• Σειρά: NanoScience and Technology,
• Θέματα: Engineering.; Condensed matter.; Spectroscopy.; Microscopy.; Mechanics.; Mechanics, Applied.; Nanotechnology.; Nanotechnology and Microengineering.; Spectroscopy and Microscopy.; Theoretical and Applied Mechanics.; Engineering, general.; Condensed Matter Physics.

Since the original publication of Noncontact Atomic Force Microscopy in 2002, the noncontact atomic force microscope (NC-AFM) has achieved remarkable progress. This second treatment deals with the following outstanding recent results obtained with atomic resolution since then: force spectroscopy and...