Παραπομπή σε μορφή APA (7η εκδ.)

Franco, J., Kaczer, B., & Groeseneken, G. (2014). Reliability of High Mobility SiGe Channel MOSFETs for Future CMOS Applications. Springer Netherlands : Imprint: Springer.

Παραπομπή σε μορφή Chicago (17η εκδ.)

Franco, Jacopo, Ben Kaczer, και Guido Groeseneken. Reliability of High Mobility SiGe Channel MOSFETs for Future CMOS Applications. Dordrecht: Springer Netherlands : Imprint: Springer, 2014.

Παραπομπή σε μορφή MLA (8th εκδ.)

Franco, Jacopo, et al. Reliability of High Mobility SiGe Channel MOSFETs for Future CMOS Applications. Springer Netherlands : Imprint: Springer, 2014.