Electrical Design of Through Silicon Via

Through Silicon Via (TSV) is a key technology for realizing three-dimensional integrated circuits (3D ICs) for future high-performance and low-power systems with small form factors. This book covers both qualitative and quantitative approaches to give insights of modeling TSV in a various viewpoints...

Πλήρης περιγραφή

Λεπτομέρειες βιβλιογραφικής εγγραφής
Συγγραφή απο Οργανισμό/Αρχή: SpringerLink (Online service)
Άλλοι συγγραφείς: Lee, Manho (Επιμελητής έκδοσης), Pak, Jun So (Επιμελητής έκδοσης), Kim, Joungho (Επιμελητής έκδοσης)
Μορφή: Ηλεκτρονική πηγή Ηλ. βιβλίο
Γλώσσα:English
Έκδοση: Dordrecht : Springer Netherlands : Imprint: Springer, 2014.
Θέματα:
Διαθέσιμο Online:Full Text via HEAL-Link
Πίνακας περιεχομένων:
  • Preface
  • 1 Introduction
  • 2 Electrical Modeling of a Through-Silicon Via (TSV)
  • 3 High-speed TSV-based Channel Modeling and Design
  • 4 Noise Coupling and Shielding in 3D ICs
  • 5 Thermal Effects on TSV Signal Integrity
  • 6 Power Distribution Network (PDN) Modeling and Analysis for TSV and Interposer-based 3D-ICs in the Frequency Domain
  • 7 TSV Decoupling Schemes
  • Index.