Yuan, J. (2016). CMOS RF Circuit Design for Reliability and Variability. Springer Singapore : Imprint: Springer.
Παραπομπή σε μορφή Chicago (17η εκδ.)Yuan, Jiann-Shiun. CMOS RF Circuit Design for Reliability and Variability. Singapore: Springer Singapore : Imprint: Springer, 2016.
Παραπομπή σε μορφή MLA (8th εκδ.)Yuan, Jiann-Shiun. CMOS RF Circuit Design for Reliability and Variability. Springer Singapore : Imprint: Springer, 2016.
Πρόσοχή: Οι παραπομπές μπορεί να μην είναι 100% ακριβείς.